Фундаментальные исследования
Исследования последнего десятилетия существенно расширили представления об эффектах в твердом теле, связанных с размерами зерен. Поликристаллические сверхмелкозернистые материалы со средним размером зерен от 100 - 150 нм до 40 нм называют обычно субмикрокристаллическими, а со средним размером зерен менее 40 нм - нанокристаллическими. Прикладной интерес к нанокристаллам обусловлен значительной модификацией и даже принципиальным изменением свойств известных материалов при переходе от кристаллического к нанокристаллическому состоянию, что используется при создании новых материалов и изделий из структурных элементов нанометрового размера. Обладая большим опытом в исследовании нанокристаллических систем Удмуртский государственный университет предлагает следующие виды высокотехнологичных услуг по фундаментальным исследованиям:
Рентгеноструктурный дифракционный анализ
Исследование структуры кристаллических и аморфных материалов:
- прецизионное определение параметров решетки кристаллических веществ,
- определение размеров кристаллитов,
- изучение напряженного состояния вещества (напряжения I и II рода),
- исследование текстур,
- качественный и количественный фазовый анализ,
- изучение структурных изменений, происходящих в деформированных металлах при нагреве,
- определение аморфности вещества.
Установки для исследований: дифрактометр рентгеновский общего назначения: ДРОН-6, ДРОН-3.0 (автоматизирован), ДРОН-3М (автоматизирован). Установки ДРОН-3, ДРОН-3М - высоко модернизированы с высокой степенью накопления статистики для исследования нанокристаллических материалов. Излучение: монохроматичное К-альфа, материалы анодов Co, Fe, Cu, Cr.
Электронно-микроскопические исследования
- исследование микроструктуры,
- исследование фазового состава,
- наблюдение и фотографирование изображений в диапазоне 100 – 800000х,
- металлографическое исследование микрошлифов (увеличение до 1000 х),
- исследование фрактографии поверхности любых твердотельных объектов: металлы, неметаллы, биообъекты и др.,
- поэлементный химический анализ с Mg до U, распределение по поверхности образца.
Есть весь стандартный набор методик приготовления и исследования объектов. Установки для исследований: просвечивающий электронный микроскоп ЭМ-125, растровый электронный микроскоп РЭМ-100У, оптический микроскоп NEOPHOT-32.
Спектрофотометрия, ИК- и рамановская спектроскопия
- комплексные исследования свойств поверхности методами оптической микроскопии, спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (в составе комплекса Centaur UHR). Полные спектры рамановского рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), включая СЗМ изображения,
- спектральные характеристики исследуемых образцов (коэффициент пропускания, отражения, оптическая плотность),
- качественное и количественное исследование жидких, твердых веществ путем регистрации спектров поглощения или пропускания в средней и ближней инфракрасной области,
- определение оптических постоянных чистых и покрытых пленками поверхностей твердых тел, слоистых структур.
Установки для исследований: комплекс Centaur UHR, сочетающий сканирующий зондовый микроскоп, конфокальный микроскоп/спектрометр с двойной дисперсией. Для измерения спектров флюоресценции возбуждение на длинах волн 473 нм (синий), 532 нм (зеленый), 632,8 нм (красный); спектрофотометр СФ-56 (с приставками зеркального и диффузного рассеяния), ИК фурье-спектрометр ФСМ 1201 (с приставками зеркального и многократного нарушенного полного внутреннего (МНПВО) отражения), лазерный эллипсометр ЛЭФ-3М-1.
Зондовая микроскопия
Измерения приповерхностных характеристик (до атомного уровня): рельеф, силы трения, адгезии.
Установки для исследований: сканирующий зондовый микроскоп NT–MDT SOLVER P47-PRO, сканирующий зондовый микроскоп (в составе комплекса Centaur UHR).